SC-2000C ਵੈਲਡਿੰਗ ਪ੍ਰਵੇਸ਼ ਮਾਪਣ ਵਾਲਾ ਮਾਈਕ੍ਰੋਸਕੋਪ

ਵੈਲਡਿੰਗ ਪ੍ਰਵੇਸ਼ ਖੋਜ ਮਾਈਕ੍ਰੋਸਕੋਪ 2000C ਇੱਕ ਹਾਈ-ਡੈਫੀਨੇਸ਼ਨ ਮਾਈਕ੍ਰੋਸਕੋਪ ਅਤੇ ਪ੍ਰਵੇਸ਼ ਮਾਪ ਸੌਫਟਵੇਅਰ ਨਾਲ ਲੈਸ ਹੈ, ਜੋ ਵੱਖ-ਵੱਖ ਵੈਲਡਿੰਗ ਜੋੜਾਂ (ਬੱਟ ਜੋੜਾਂ, ਕੋਨੇ ਦੇ ਜੋੜਾਂ, ਲੈਪ ਜੋੜਾਂ, ਟੀ-ਆਕਾਰ ਦੇ ਜੋੜਾਂ, ਆਦਿ) ਦੁਆਰਾ ਤਿਆਰ ਕੀਤੇ ਪ੍ਰਵੇਸ਼ ਸੂਖਮ ਚਿੱਤਰਾਂ ਨੂੰ ਮਾਪ ਅਤੇ ਸੁਰੱਖਿਅਤ ਕਰ ਸਕਦਾ ਹੈ। ਉਸੇ ਸਮੇਂ, ਵੈਲਡਿੰਗ ਮੈਕਰੋ ਨਿਰੀਖਣ ਵੀ ਕੀਤਾ ਜਾ ਸਕਦਾ ਹੈ, ਅਤੇ ਵੈਲਡਿੰਗ ਗੁਣਵੱਤਾ ਦੀ ਜਾਂਚ ਕਰਨ ਲਈ ਦੋ ਮਾਈਕ੍ਰੋਸਕੋਪ ਪ੍ਰਦਾਨ ਕੀਤੇ ਜਾਂਦੇ ਹਨ। ਵੈਲਡਿੰਗ ਪ੍ਰਵੇਸ਼ ਬੇਸ ਧਾਤ ਦੇ ਪਿਘਲਣ ਦੀ ਡੂੰਘਾਈ ਨੂੰ ਦਰਸਾਉਂਦਾ ਹੈ। ਵੈਲਡਿੰਗ ਦੌਰਾਨ, ਦੋ ਬੇਸ ਧਾਤਾਂ ਨੂੰ ਮਜ਼ਬੂਤੀ ਨਾਲ ਇਕੱਠੇ ਵੈਲਡ ਕਰਨ ਲਈ ਇੱਕ ਖਾਸ ਪ੍ਰਵੇਸ਼ ਹੋਣਾ ਚਾਹੀਦਾ ਹੈ। ਨਾਕਾਫ਼ੀ ਪ੍ਰਵੇਸ਼ ਆਸਾਨੀ ਨਾਲ ਅਧੂਰੀ ਵੈਲਡਿੰਗ, ਸਲੈਗ ਸੰਮਿਲਨ, ਵੈਲਡ ਨੋਡਿਊਲ ਅਤੇ ਠੰਡੇ ਦਰਾਰਾਂ ਅਤੇ ਹੋਰ ਸਮੱਸਿਆਵਾਂ ਦਾ ਕਾਰਨ ਬਣ ਸਕਦਾ ਹੈ। ਬਹੁਤ ਜ਼ਿਆਦਾ ਡੂੰਘੀ ਪ੍ਰਵੇਸ਼ ਆਸਾਨੀ ਨਾਲ ਬਰਨ-ਥਰੂ, ਅੰਡਰਕੱਟ, ਪੋਰਸ ਅਤੇ ਹੋਰ ਵਰਤਾਰਿਆਂ ਦਾ ਕਾਰਨ ਬਣ ਸਕਦਾ ਹੈ, ਜੋ ਸਿੱਧੇ ਤੌਰ 'ਤੇ ਵੈਲਡਿੰਗ ਗੁਣਵੱਤਾ ਨੂੰ ਪ੍ਰਭਾਵਿਤ ਕਰਦਾ ਹੈ। ਇਸ ਲਈ, ਵੈਲਡਿੰਗ ਪ੍ਰਵੇਸ਼ ਨੂੰ ਮਾਪਣਾ ਬਹੁਤ ਜ਼ਰੂਰੀ ਹੈ। ਹਾਲ ਹੀ ਦੇ ਸਾਲਾਂ ਵਿੱਚ, ਇਲੈਕਟ੍ਰਾਨਿਕਸ, ਰਸਾਇਣ, ਪਰਮਾਣੂ ਊਰਜਾ, ਆਟੋਮੋਬਾਈਲਜ਼, ਜਹਾਜ਼ ਨਿਰਮਾਣ ਅਤੇ ਏਰੋਸਪੇਸ ਵਰਗੀਆਂ ਆਧੁਨਿਕ ਤਕਨਾਲੋਜੀਆਂ ਦੇ ਤੇਜ਼ੀ ਨਾਲ ਵਿਕਾਸ ਦੇ ਨਾਲ, ਵੱਖ-ਵੱਖ ਉਦਯੋਗਾਂ ਵਿੱਚ ਵੈਲਡਿੰਗ ਗੁਣਵੱਤਾ ਲਈ ਵੱਧ ਤੋਂ ਵੱਧ ਉੱਚ ਜ਼ਰੂਰਤਾਂ ਹਨ, ਅਤੇ ਵੈਲਡਿੰਗ ਗੁਣਵੱਤਾ ਦਾ ਪਤਾ ਲਗਾਉਣਾ ਮਸ਼ੀਨਰੀ ਨਿਰਮਾਣ ਉਦਯੋਗ ਦੇ ਉਦਯੋਗਿਕ ਅਪਗ੍ਰੇਡ ਲਈ ਮਹੱਤਵਪੂਰਨ ਹੈ। ਮਹੱਤਵਪੂਰਨ। ਪੈਨਿਟ੍ਰੇਸ਼ਨ ਮਾਈਕ੍ਰੋਸਕੋਪ ਦਾ ਉਦਯੋਗਿਕ ਅਪਗ੍ਰੇਡ ਬਹੁਤ ਨੇੜੇ ਹੈ। ਇਸ ਸਥਿਤੀ ਦੇ ਜਵਾਬ ਵਿੱਚ, ਅਸੀਂ ਐਲੂਮੀਨੀਅਮ ਮਿਸ਼ਰਤ ਪ੍ਰਤੀਰੋਧ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਲਈ ਇੱਕ ਮਾਈਕ੍ਰੋਸਕੋਪ HB5276-1984 ਵਿਕਸਤ ਅਤੇ ਡਿਜ਼ਾਈਨ ਕੀਤਾ ਹੈ ਜੋ ਉਦਯੋਗ ਦੇ ਮਿਆਰਾਂ (HB5282-1984 ਸਟ੍ਰਕਚਰਲ ਸਟੀਲ ਅਤੇ ਸਟੇਨਲੈਸ ਸਟੀਲ ਪ੍ਰਤੀਰੋਧ ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਅਤੇ ਸੀਮ ਵੈਲਡਿੰਗ ਗੁਣਵੱਤਾ ਨਿਰੀਖਣ) ਦੇ ਅਨੁਸਾਰ ਵੈਲਡਿੰਗ ਪ੍ਰਵੇਸ਼ ਨੂੰ ਮਾਪਦਾ ਹੈ। ਅਤੇ ਸੀਮ ਵੈਲਡਿੰਗ ਗੁਣਵੱਤਾ ਨਿਰੀਖਣ) ਵੈਲਡਿੰਗ ਗੁਣਵੱਤਾ ਨਿਰੀਖਣ ਪ੍ਰਣਾਲੀ 2000C। ਇਹ ਪ੍ਰਣਾਲੀ ਨਾ ਸਿਰਫ਼ ਵੈਲਡਿੰਗ ਪ੍ਰਵੇਸ਼ ਨੂੰ ਮਾਪ ਸਕਦੀ ਹੈ (ਵਿਨਾਸ਼ ਵਿਧੀ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਕੇ) ਸਗੋਂ ਵੈਲਡਿੰਗ ਗੁਣਵੱਤਾ ਦੀ ਜਾਂਚ ਵੀ ਕਰ ਸਕਦੀ ਹੈ, ਚੀਰ, ਛੇਕ, ਅਸਮਾਨ ਵੇਲਡ, ਸਲੈਗ ਸੰਮਿਲਨ, ਪੋਰਸ ਅਤੇ ਸੰਬੰਧਿਤ ਮਾਪ, ਆਦਿ ਦਾ ਪਤਾ ਲਗਾ ਸਕਦੀ ਹੈ। ਮੈਕਰੋਸਕੋਪਿਕ ਜਾਂਚ।